機器視覺軟體 AIL ─ 電子業 AOI 檢測實務應用

機器視覺軟體 AIL ─ 電子業 AOI 檢測實務應用

本次研討會帶您了解 Aurora Imaging Library (AIL) 的系統架構與核心功能,介紹與教學著重在電子製造業:半導體,面板,PCB,被動元件。透過實際範例,說明常用視覺模組如何在定位、量測、瑕疵檢測與識別等場景中發揮效能,同時介紹最新 AIL11 版本亮點,協助企業提升檢測精度與系統開發效率。

活動資訊

● 活動日期 | 4月9日 (四) 14:00 - 17:00 (13:30 開始報到)
● 活動地點 | 集思竹科會議中心 / 新竹科學園區工業東二路1號
● 報名截止 | 4月2日 (四) 17:00
● 相關諮詢 | 鄭小姐 / emilycheng@g4.com.tw / 02-25031803 #124

適合對象

● 已有使用AIL但想知道 AIL11 新功能的軟體工程師
● 已有 AOI 軟體經驗但沒使用過 AIL,想了解 AIL 的軟體工程師
● 想導入 AOI 但尚無經驗的軟體工程師

活動議程

報名成功後,您將獲得軟體下載連結,並可與講師同步操作,一起實作學習。

報名方式

本活動為免費參加,請點選下方按鈕進行報名。建議不登入會員直接填表報名,QR Code 將隨附於報名成功通知信中。

注意事項

  1. 主辦單位保有修改、終止、變更活動內容細節之權利。
  2. 本活動報名截止日 04/02 (四)。主辦單位將視報名狀況提前或延後線上報名時間。
  3. 本活動採預先線上報名並完成登錄手續,不開放現場報名,請勿偽造他人身份資料進行報名以免觸法,主辦單位保留報名資格之最後審核權利。
  4. 系統發送之報名成功通知僅表示報名資料已成功送出。
    如因名額限制、資格條件或活動規劃調整等因素需進行名單調整,主辦單位將另行通知。
    若於活動開始前一週未收到相關通知,請依原訂時間前往參加活動。

 

集思竹科會議中心 / 新竹科學園區工業東二路1號

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~ 2026/04/02 17:00(+0800)
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